مطياف الانبعاث البصري لتحليل العناصر كامل الطيف GL-410

مطياف GL-410 هو مطياف انبعاث بصري كامل الطيف (OES)، مثالي للتحليل العنصري عالي الدقة لمواد مثل الحديد والنحاس والألمنيوم والزنك. يُستخدم بشكل رئيسي في الصناعات التي تتطلب تحليلًا متعدد المصفوفات. تعتمد خطوة العمل السابقة على معدات تحضير العينات، بينما تتطلب الخطوة التالية برنامجًا لمعالجة البيانات.

تحليل العناصر عالي الدقة للمصفوفات المتعددة

يدعم جهاز قياس الطيف GL-410 التحليل الشامل لمختلف المصفوفات العنصرية بما في ذلك Fe وCu وAl وZn وNi وSn وTi وMg، مما يلبي الاحتياجات الصناعية المتنوعة.

تصميم مطياف معياري متقدم

بفضل تصميمه المعياري، يدمج جهاز قياس الطيف وحدات مستقلة لجمع البيانات البصرية ومعالجة البيانات، إلى جانب معالج ARM عالي الأداء، مما يقلل من وقت التحليل ويعزز الدقة.

موثوقة ومستقرة مع التحكم الدقيق في درجة الحرارة

يتحكم نظام التحكم الدقيق في درجة الحرارة في تقلبات درجة الحرارة إلى ±0.2 درجة مئوية، مما يضمن التشغيل المستقر وتحسين كفاءة الطاقة.

تحليل الطيف الواسع مع التحكم الرقمي

باستخدام مصدر ضوء يتم التحكم فيه رقميًا، يعمل جهاز قياس الطيف على توسيع قدرته على تحليل العناصر، وتغطية العناصر النزرة، والكبيرة، والعناصر ذات المحتوى العالي للغاية بشكل فعال.

تصميم بصري فعال لتحسين الدقة

يقلل التصميم البصري الفعال مع الشبكة المستوية من استخدام CCD، وبالتالي تحسين الدقة والاستقرار مع الحفاظ على شكل الجهاز المدمج والمحمول.

نظام مسار الغاز الأمثل لتقليل التكاليف

يتميز جهاز قياس الطيف بمسار غاز مكرر مع وظيفة تنظيف وآلية إغلاق، مما يمنع تسرب الأرجون ويتيح إعادة التعبئة السريعة، وبالتالي تقليل تكاليف التشغيل.

دعم البرامج الذكية لمرونة البيانات

يتيح برنامج التشغيل الذكي لجهاز قياس الطيف عرضًا مرنًا للبيانات الأولية ويدعم تنسيقات الطباعة المختلفة لاستيعاب المتطلبات الشخصية.